CEXCI产品包括:叠层/双结/三结/多结/单结太阳能电池量子效率/IPCE/光谱响应测量测试分析系统,太阳能电池外量子效率测量系统,太阳能电池内量子效率测试系统,太阳能电池IQE/EQE测量系统,太阳能电池QE测试系统,太阳能电池IPCE测试系统,太阳能电池光电转化效率测量系统,太阳能电池绝对光谱响应度测量系统,太阳能电池相对光谱响应度测试系统,太阳能电池SR测试系统,太阳能电池电流电压特性测试系统,太阳能电池I-V曲线测量系统,已校准的标准太阳能电池,已校准的户外用封装标准太阳能电池,已校准的标准探测器,AAA级太阳光模拟器,辐射照度计,辐射功率计,太阳能电池电流电压特性I-V特性曲线测试仪,太阳光模拟器辐射均匀性等级测试仪,太阳光模拟器光谱匹配度等级测试仪,多结叠层太阳能电池测量用滤光片及滤光片转轮,光栅单色仪,太阳能电池光电信号采集模块,太阳能电池数字测试源表,太阳能电池量子效率/光谱响应/IPCE/I-V测试样品台及夹具,短弧氙灯光源系统,卤钨灯光源系统,深紫外氘灯光源系统,红外光源系统,波长可调谐单色光源系统,氘灯卤钨灯混合光源系统,光谱校准灯光源系统,光电倍增管探测器系统Si硅光电二极管探测器模块,光纤分光光度计,光电/光谱测试系统光电/光谱测试解决方案等.
Solar Cell Quantum Efficiency/IPCE/Spectral Response/I-V Curve Measurement System,Calibrated Reference Solar Cell,Solar Simulator... ENGLISH
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计算机控制1/8m自动微型双单色仪

    光栅单色仪是用光栅衍射的方法获得单色光的仪器,它可以从发出复合光的光源(即不同波长的混合光的光源)中得到单色光,通过光栅一定的偏转的角度得到某个波长的光,并可以测定它的数值和强度,因此可以进行复合光源的光谱分析。单色仪的发明可以追溯到1666年,当时,牛顿在研究三棱镜,发现将太阳光通过三棱镜后被分解为七色光。1814年夫琅和费设计了由狭缝、棱镜和视窗组成的光学系统,并发现了太阳光谱中的吸收谱线(夫琅和费谱线)。1860年克希霍夫和本生为研究金属光谱而设计成了较完善的现代光谱仪,光谱学诞生。因为棱镜光谱是非线性的,所以人们开始研究光栅光谱仪。
    计算机控制1/8m自动微型双单色仪计算机控制1/8m自动微型双单色仪基本特性:
    外型尺寸:5-1/4"x6-1/4"x3-1/4"
    RS232电脑通讯接口
    双向扫描
    高分辨率和宽光谱范围
    双单色仪相加模式可以提高分辨率、降低杂散光,尤其适用拉曼光谱分析和荧光分析;双单色仪相减模式可以避免脉冲光源带宽的扩大
    配备自动滤光轮,实现滤光片的自动选择
    可做单色仪,也可做光谱摄制仪
    双单色仪比普通单色仪具有更出色的性能
    计算机控制1/8m自动微型双单色仪采用的是两台单色仪串联结构,第一台单色仪的出射狭缝作为第二台单色仪的入射狭缝。计算机控制1/8m自动微型双单色仪出厂时可以被设置为相加模式或者相减模式,在这两种模式下,相当于光束经过了两次相同的滤光来消除杂散光,这样达到的效果相当于一台单色仪效果的平方。
    计算机控制1/8m自动微型双单色仪工作在相加模式下,杂散光会被明显降低。第一台单色仪将光束进行衍射,第二台单色仪将光束衍射加倍,这样就可以将分辨率加倍。
    计算机控制1/8m自动微型双单色仪工作在相减模式下,第一台单色仪进行波长选择,第二台单色仪用来消除第一台单色仪光谱散射所引入的时间失真和角度失真。
    针对脉冲光源光谱分析,计算机控制1/8m自动微型双单色仪独特的相减模式是不错的选择。比如,在脉冲光源产生的光通过普通单色仪的时候,通常会引入高达250ps的带宽。但是,采用计算机控制1/8m自动微型双单色仪的相减模式的话,第二台单色仪会对第一台单色仪的光路进行补偿,从而将时间失真基本消除。
    针对拉曼光谱分析,计算机控制1/8m自动微型双单色仪独特的相加模式同样是不错的选择。由于计算机控制1/8m自动微型双单色仪采用了独特的光学结构,杂散光被明显的降低,几乎接近于激光效果。这种优势在红外和近红外波段同样可以表现出来。
    计算机控制1/8m自动微型双单色仪采用了完善的控制电路,可以自行进行内部校准,可以通过计算机RS232口方便实现波长更改,波长扫描,更改扫描速度,选择光栅和反馈数据等功能。
    计算机控制1/8m自动微型双单色仪详细技术参数:
    Double cascaded Czerny-Turner, double-grating turrets standard in each section
    Focal Length: 110mm each section
    f/#: 3.9 overall
    Beam Path: Straight through standard, right angle provided on request.
    Wavelength Precision: 0.1nm (additive) 0.2nm (subtractive)
    Wavelength Accuracy: ± 0.3nm (additive) ± 0.6nm (subtractive)
    Max Resolution: < 0.5nm (additive) < 1nm (subtractive)
    Band Pass: 0.25nm (additive) 0.50nm (subtractive), w/standard slits
    Slewing Speed: >100nm/second
    Stray Light: < 10-9

太阳能电池测试系统,太阳能电池测量系统,测试仪,测量仪


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